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나노종합기술원
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장비명
Overlay Measurement System
모델명
ARCHER-10XT
제조사
KLA-Tencor Corporation
보유기관
나노종합기술원
장비분류
공정
담당자
이동욱
전화
042-366-1532
| 사양(구성및성능)
□ Throughput : > 90wfs
□ TIS : < 5nm
□ Wafer size : 200mm wafer
| 용도
□ KLA-Archer 10 XT enables IC manufacturers to meet the challenges of overlay control, providing better monitoring and analysis that maximizes overlay
control on new technologies to improve yield and cost of ownership