home 로그인 회원가입
HOME > 장비안내 > 나노종합기술원 
 
장비검색
장비명 Overlay Measurement System
모델명 ARCHER-10XT
제조사 KLA-Tencor Corporation
보유기관 나노종합기술원
장비분류 공정
담당자 이동욱
전화 042-366-1532

| 사양(구성및성능)


□ Throughput : > 90wfs

□ TIS : < 5nm

□ Wafer size : 200mm wafer

| 용도


□ KLA-Archer 10 XT enables IC manufacturers to meet the challenges of overlay control, providing better monitoring and analysis that maximizes overlay
control on new technologies to improve yield and cost of ownership