| 웨이퍼 레벨 패키징용 LFT(Lateral Feed Through) 배선 공정
문서번호 | PLA05201701 | 작성일 | 2017. 01. 15. |
소속 | 나노종합기술원 | 담당자 | 김태현 |
연락처 | 010-4507-4346 | 이메일 | thkim@nnfc.re.kr |
[ 공 정 규 격 서 ] |
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공정명 | 웨이퍼 레벨 패키징용 LFT(Lateral Feed Through) 배선 공정 | 공정분류 | 공정 |
1. 공정 목적 및 용도 | |||
○ 웨이퍼레벨 패키징의 정의 - CMOS/MEMS 공정을 통해 제작된 센서 소자 등의 패키징을 위해 Cap 웨이퍼를 사용하여 웨이퍼 레벨 본딩 기술로 패키징 하는 것임. ○ 필요성 및 용도 - 제작된 센서 소자의 보호 및 PCB에 모듈형성을 위해 세라믹 기판 등을 사용하여 패키징을 하는 기존방식 대신 웨이퍼 상태에서 capping 및 배선 형성을 하여 초소형화 경량화가 가능한 장점이 있음. |
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2. 공정 구조 및 특성 | |||
○ 특징 - 본 기술은 Cap wafer에 cavity를 형성하여 소자 환경을 진공(< 1 torr) 밀봉하는 것이 특징이며, 센서 신호 취득을 위한 배선이 lateral방향으로 본딩 line 아래에 형성되어 있음. |
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3. 공정순서 | |||
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4. 공정 조건 | |||
공정 결과물 공정 결과물 특성 ○ LFT(Lateral Feed Through) WLP(Wafer Level Package) 배선 - 접합 강도 : > 70 MPa - Cavity 내부 진공도 특성 : < 1 torr - LFT 배선 저항 : < 5 ohm |