| 적외선 센서의 TCR 측정 절차
문서번호 | PLA05202001 | 작성일 | 2020. 05. 25. |
소속 | 충남대학교 | 담당자 | 이희덕 |
연락처 | 010-3468-5361 | 이메일 | hdlee@cnu.ac.kr |
[ 공 정 규 격 서 ] |
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공정명 | 적외선 센서의 TCR 측정 절차 | 공정분류 | 특성 분석 |
1. 공정 목적 및 용도 | |||
○ 측정 목적 적외선 센서의 웨이퍼레벨 테스팅 기술을 적용하여 Temperature Coefficient of Resistance (TCR)을 추출하여, 적외선 센서의 성능을 평가하기 위한 도구로 사용하고자 함. |
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2. 공정 구조 및 특성 | |||
○ 측정 조건 1) 측정 온도: 25 ℃, 50 ℃, 75 ℃, 100 ℃ 2) 전압 조건: Vanode = 0 V ~ 3 V, Vcathode = 0 V ○ 측정 set up ○ 측정 구성 |
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3. 공정순서 | |||
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4. 공정 조건 | |||
○ 측정 결과물(그래프) |