| 고온 안정성 FET (Field effect transistor) SiC 센서 플랫폼
| 문서번호 | HA2019003 | 작성일 | 2019. 12. 02 |
| 소속 | 나노융합기술원 | 담당자 | 최경근 |
| 연락처 | 054-279-0212 | 이메일 | choikk@postech.ac.kr |
[ 공 정 규 격 서 ] |
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| 공정명 | 고온 안정성 FET (Field effect transistor) SiC 센서 플랫폼 | 공정분류 | 소자/센서 |
| 1. 공정 목적 및 용도 | |||
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○ 공정 목적 |
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| 2. 공정 구조 및 특성 | |||
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○ 공정 구조(사진 및 모식도/구조도 등) ○ 공정 특성 단위공정과 모듈공정 확립으로 FET 기반 SiC 센서 일관 (full) 공정으로 센서 동작 및 설계 검증 - 고온 (상온 ~ 550℃) 안정성 배선 형성 공정개발: 오믹 콘택 (NiSix 박막) 특성 ※ 금속 배선의 고온 안정성 평가 방법 및 실험 결과 ※ NiSix 박막의 오믹 콘택 특성 및 열적 안정성 평가 (hysteresis 거동 관찰) < (좌) I–V curves with RTA temperatures from 900 °C to 1,000 °C> <(우) Resistance ratio (R/Ro, where R is resistance at measuring temperature at Ro is resistance at room temperature) of sheet resistance of the Ni-Si/4H-SiC thin film measured after RTA from 925 °C to 1000 °C>※ n+, p+ 영역에 형성된 NiSix 박막의 오믹 콘택 특성 ![]() ※ FET 구조의 n+, p+ active 영역에 형성된 오믹 콘택의 저항값 ![]() - FET 공정 구현 특성 ![]() |
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| 3. 공정순서 | |||
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| 4. 공정 조건 | |||
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