| 고온 안정성 MIS(metal insulator semiconductor) SiC 센서 플랫폼
문서번호 | HA2019004 | 작성일 | 2019. 12. 02 |
소속 | 나노융합기술원 | 담당자 | 최경근 |
연락처 | 054-279-0212 | 이메일 | choikk@postech.ac.kr |
[ 공 정 규 격 서 ] |
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공정명 | 고온 안정성 MIS(metal insulator semiconductor) SiC 센서 플랫폼 | 공정분류 | 소자/센서 |
1. 공정 목적 및 용도 | |||
○ 공정 목적 |
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2. 공정 구조 및 특성 | |||
○ 공정 구조(사진 및 모식도/구조도 등) ○ 공정 특성 단위공정과 모듈공정 확립으로 MIS SiC 센서 일관 (full) 공정으로 센서 동작 및 설계 검증 - 고온 안정 산화 금속 공정개발 : 고온 안정성 SiC센서 Schottky 콘택 공정개발 (Ta2O5 박막) 특성 ※ 금속 증착 및 rapid thermal oxidation (RTO) 후 기판과 박막의 계면 특성 <(좌) 증착 시간에 따른 Ta 박막 두께(600W, 2m Torr)> <(우) Cross-sectional TEM images of as deposited Ta layers ((a), (b)) and tantalum oxide layers ((c), (d)) on (a), (c) Si substrates and (b), (d) SiC substrates> <(좌) RTO 공정 온도에 따른 Ta2O5 박막 표면 관찰 SEM 사진> <(우) SIMS depth profiles of Ta 원자 atoms according to RTO temperature (a) on Si substrates and (b) on SiC substrates> - 촉매 금속 형성 공정: MIS (Metal Insulator Semiconductor) 구조 구현 및 수소 감지 특성 확인 <(좌) 수소 센서 구현 후 TEM 단면 관찰 사진> <(우) RTA 온도에 따른 I-V 측정 결과> ※ 센서 특성 <(좌) MIS 구조에서 Schottky 특성 및 재현성 측정 결과> <(우) 400 ℃ 에서 수소 농도 변화에 따른 수소 감지 특성> |
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3. 공정순서 | |||
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4. 공정 조건 | |||
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