| Low Stress SiNx 절연막 표준 공정 플랫폼
문서번호 | PLA06201709 | 작성일 | 2018. 03. 26. |
소속 | 나노융합기술원 | 담당자 | 최경근 |
연락처 | 054-279-0212 | 이메일 | choikk@postech.ac.kr |
[ 공 정 규 격 서 ] |
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공정명 | Low Stress SiNx 절연막 표준 공정 플랫폼 | 공정분류 | 공정 |
1. 공정 목적 및 용도 | |||
○ 공정 목적 : MEMS 기반의 압력센서 제작하기 위해 높은 내압특성과 낮은 스트레스 값을 갖는 절연막 확보가 필요. 특히 PECVD SiNx과 SiO2 막의 응력과 식각 속도는 정전 용량형 압력 센서의 전극 특성에 많은 영향을 줌 ○ 공정 용도 : 압력센서 제작시 전극의 절연막, 희생막, 보호막 역할을 위해 low stress 절연막 필요. 특히 정전 용량형 압력센서는 전극과 전극 사이에 간격이 좁고, 크기가 켜 더욱 필요 |
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2. 공정 구조 및 특성 | |||
○ 공정 구조(사진 및 모식도/구조도 등) : 금속-절연체-금속 (MIM) 구조에서 항복 전압 (BV, Breakdown Field Voltage) 및 커패시턴스 온도 계수 - TCC=1/C·(dC/dT) - 30nm SiNx/30 nm ALD Al2O3 구조 (750℃, 90s 열처리 후)의 TCC 측정값(@ 1KHz): - 83 (ppm/℃) - 30nm ALD Al2O3 구조 (750℃, 90s 열처리 후)의 TCC 측정값(@ 1KHz): 9,184 (ppm/℃) ○ 증착온도가 SiNx 박막 BOE (10:1) 식각 속도에 미치는 영향 |
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3. 공정순서 | |||
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4. 공정 조건 | |||
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